Найденные материалы, документы, бумажные и электронные книги и файлы:
Ниже показаны результаты поиска известных поисковых систем. В результатах могут быть показаны как эта книга, так и похожие на нее по названию или автору.
Search results:
- ий
микроскопия, растровая электронная микроскопия, сканирующая туннельная микроскопия и ... Введение в физику поверхности. М.: Наука, 2006. - 490 с. 8. Кларк ...
www.ioffe.ru - МЕТОД СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ ...
Автор: АС Кулумбетов · 2023 — В обзорной статье излагается работы исследовании примесного кремния методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). На сегодняшний день исследование и ...
cyberleninka.ru - Канцтовары
Канцтовары: бумага, ручки, карандаши, тетради. Ранцы, рюкзаки, сумки. И многое другое.
my-shop.ru - Сканирующая туннельная микроскопия и атомарно- ...
Автор: СА Рыков · 2022 · Цитируется: 4 — В учебном пособии на примерах сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и атомарно-силового микроскопа (АСМ) рассмотрены основные принципы сканирующей ...
elib.spbstu.ru - Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия ...
Юров, Владимир Юрьевич. Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия наноструктур на поверхности монокристалла меди: дис. доктор физико-математических ...
www.dissercat.com - Тезисы докладов конференции (Том 1)
28 авг. 2018 г. — В сборнике опубликованы материалы XXVII Российской конференции «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях ...
www.crys.ras.ru - SPM-2017 Abstract book - UCSU Modern Nanotechnologies
30 авг. 2017 г. — атомно-силовой микроскопии (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) на установке NanoEducator. Были получены АСМ-изображения и ...
nanocenter.urfu.ru - А. Ю. Аладышкин, А. А. Фраерман
... Введение в физику поверхностных и интерфейсных явлений. Учебное пособие. Рекомендовано Учёным советом радиофизического факультета для студентов ННГУ ...
old.ipmras.ru - Методы локально - Центр квантовых технологий
... Сканирующая туннельная микроскопия атомной структуры, электронных свойств и поверхностных ... Саранин, А.В.Зотов, М.Катаяма. Введение в физику поверхности ...
quantum.msu.ru - РАБОЧАЯ ПРОГРАММА УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ
Основная литература: 1. Б.А.Логинов. Сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия: учебно- методическое пособие. – М.: МИФИ, 2008, 224с. 2. В.Л ...
www.z-proton.ru - Программа учебной дисциплины " Введение в физику ...
Сканирующая туннельная микроскопия. Атомно-силовая микроскопия ... Саранин, А.В.Зотов, М.Катаяма Введение в физику поверхности, Москва ...
www.hse.ru - Физические явления на поверхности твердого тела
Введение. Основные свойства поверхности. Энергия поверхности ... Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия. Атомно-силовая ...
oop.dgu.ru - Толщина поверхностного слоя типичных полупроводников
Автор: ВМ Юров · 2020 · Цитируется: 1 — В., Саранин А.А., Зотов А.В. Исследование методом сканирующей туннельной микроскопии роста наноостровков Cu на поверхности Si(100)-c(4*12)-Al // Письма в ...
cyberleninka.ru - Туннельная микроскопия/спектроскопия гетерогенных ...
Туннельная микроскопия/спектроскопия гетерогенных электродных и электроосажденных материалов скачать бесплатно автореферат ... A.V.Zotov, A.A.Saranin, V.G.Kotlyar ...
fizmathim.com - Исследование адсорбции In, Al, Co, Cu и Au на ...
Зотов А.В. Саранин А.А. Введение в сканирующую туннельную микроскопию.-Учебное пособие. Владивосток: ИАПУ, 2002.- 62 р. 76. In Wiley John, Sons, editors ...
www.dissercat.com - Структурная релаксация и колебательные свойства ...
Автор: ГГ Русина · 2021 · Цитируется: 1 — и поверхностных фононов (таких как сканирующая туннельная микроскопия в комбинации с неупругой электронной туннельной спектроскопией) [15–17], а также с ...
jetpletters.ru - ОТЧЁТ - ИФ СО РАН
ников С.Г., Саранин А.А., Латышев А.В., Особенности структуры и свойств наноп- лёнок β-FeSi2 и интерфейса β-FeSi2/Si // Письма в ЖЭТФ. 2012 ...
kirensky.ru - Физика и техника полупроводников
Методами сканирующей электронной и туннельной микроскопии определены морфология слоя, форма и размеры наночастиц. По трехмерным топограммам определена тонкая ...
journals.ioffe.ru - взаимодействие - Всероссийская научная школа-семинар
... Зотов А.В., Катаяма М.Введение в физику поверх- ности.-М.:Наука, 2006. 490 с ... сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) позволяет с достаточной точно-.
www.metananobio.ru - Санкт-Петербургский государственный ...
... Введение. Развитие компьютеров и Интернета требует передачи все больших ... Саранин А.А., Зотов А.В., Катаяма М. Введение в физику поверхности. М: Наука ...
ntv.ifmo.ru - Гранты. Конкурсы. Конференции
чьим книгам и статьям они учились. Общение снимает налет ... сканирующей туннельной ми- кроскопии для технологических операций атомарного ...
www.nnic.nnov.ru - Российская конференция по электронной микроскопии
Сканирующий туннельный микроскоп позволяет получать вольт-амперные ... Н.Е.Сергеева Введение в электронную микроскопии минералов МГУ, 1977, 144. 2. В.Н ...
www.issp.ac.ru - НАНОФИЗИКА И НАНОÝЛЕКТРОНИКА
Саранин, чл.-корр. РАН. ИАПУ ДВО РАН, Владивосток. В.Б. Тимофеев, академик ... книгу [3]). В этой теории рассматривается стацио- нарное возбуждение ...
www.nanosymp.ru - Том 2 - НАЗВАНИЕ ДОКЛАДА - ЛЭТИ
... Введение. Наледь на самолетах оказывает негативное влияние как на ... Саранин А.А. «Введение в физику поверхности» Наука 2005. 2. Т.В ...
nnb.etu.ru - Untitled - Геологический институт СО РАН
Особенности применения методов сканирующей зондовой микроскопии в минералогических иссле- ... Зотов А.В., Катаяма М.. Введение в физику поверхности. М ...
geo.stbur.ru - Российское научно-техническое вакуумное общество
... Введение. В современной образовательной среде большую популярность ... Саранин, А.В. Зотов, М. Катаяма. Введение в физику поверхности. М ...
cplire.ru:8080 - Министерство науки и высшего образования
... Введение в физику поверхности / К. Оура, В.Г. Лифшиц, А.А. Саранин,. А.В. Зотов ... том числе с изменением коэрцитивности доменных границ. При ...
physchemaspects.ru - нанофизика и наноэлектроника - СО РАН
... Саранин, чл.-корр. РАН, ИАПУ ДВО РАН, Владивосток. А.А. Снигирев, к.ф.-м.н ... Введение. Зависимость джозефсоновского тока J через слабую связь между ...
bibl.laser.nsc.ru - Сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия
А,. 198504 Петергоф, Санкт-Петербург, Россия. email: anatoliy.petukhov@spbu.ru. Page 2. 1 Введение.
researchpark.spbu.ru - А' Ь - Учебные планы ТПУ
Введение. Назначение и возможности хроматографического анализа. Основы метода ... Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в.
up.tpu.ru - В Н К С Ф – 28 - внксф
... введении малого количества модификатора (0.5, 1 мас.% GeO2) в ТР 0.7 ... Саранин Александр Александрович, Усачёв Дмитрий Юрьевич ...
asf.ural.ru - аннотированные рабочие программы дисциплин
Сканирующая электронная микроскопия и рентгено- спектральный ... туннельной электронной микроскопии, просвечивающей электронной ...
www.tsu.ru - Институт автоматики и процессов управления / ...
Зотов, А.А. Саранин "ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ РОСТА НАНООСТРОВКОВ Cu НА ПОВЕРХНОСТИ Si(100)-c(4?12)-Al" (в журнал ПЖТФ)
iacp-web.dvo.ru
На данной странице Вы можете найти лучшие результаты поиска для чтения, скачивания и покупки на интернет сайтах материалов, документов, бумажных и электронных книг и файлов похожих на материал «Введение в сканирующую туннельную микроскопию, Саранин А.А., Зотов А.В., 2002»
Для формирования результатов поиска документов использованы сервисы поиска по поисковым системам.
Показаны первые 33 результата(ов).